氣體加熱樣品臺可用于電鏡樣品在不同的高溫條件下的結(jié)構(gòu)表征。模塊化設(shè)計避免了不同實驗之間的交叉污染，樣品制備簡單易行。主要在多相催化、納米材料合成、能源材料及金屬合金的腐蝕等研究領(lǐng)域中廣泛應(yīng)用。TEM氣體加熱樣品臺是在原位樣品臺內(nèi)部構(gòu)建小型的氣氛納米實驗室，在氣體環(huán)境內(nèi)對材料進行原子分辨高時空精度分析。可以根據(jù)客戶需求結(jié)合MEMS微加工工藝內(nèi)置加熱模塊、光學模塊和偏壓模塊，通過微納芯片對單個納米結(jié)構(gòu)進行外場控制進行熱學、光學及電學性質(zhì)的測量，并可在物性測量的同時，動態(tài)、高分辨地...

TEM三維重構(gòu)技術(shù)是電子顯微術(shù)、電子衍射與計算機圖像處理相結(jié)合而形成的一種有效且高分辨率的三維重構(gòu)方法，用以表征材料三維空間結(jié)構(gòu)。TEM三維重構(gòu)的基本原理基于中心截面定理:任何實空間的三維物體沿電子束方向投影的傅立葉變換是該物體所對應(yīng)的傅立葉空間中通過中心且垂直于投影方向的一個截面，換言之，只要收集樣品在不同方向的投影或同一樣品在不同角度的投影，對每張投影圖進行傅立葉變換，按照投影方向填充到三維傅里葉空間對應(yīng)的切面，再進行反傅立葉變換，就可得到實空間的三維結(jié)構(gòu)。TEM三維重構(gòu)...

隨著電子顯微鏡在生命科學、材料科學、地質(zhì)等諸多研究領(lǐng)域的應(yīng)用，對樣品在低溫情況下的形貌特征、相變等成為熱點和不可獲取的手段，通過采用液氦和液氮樣品臺來開展低溫或溫度相關(guān)研究，從而更好地了解您的樣品。冷凍樣品臺的應(yīng)用也進一步拓展了各種檢測技術(shù)的應(yīng)用范圍，尤其是電子顯微鏡領(lǐng)域，冷凍樣品臺可以使得不耐輻照、植物樣品等原位觀察和低溫條件下的加工成為可能。SEM冷凍樣品臺是在標準樣品臺的基礎(chǔ)上設(shè)計冷凍模塊、PID溫控模塊及冷卻循環(huán)模塊，無需改造電鏡，在掃描電鏡內(nèi)實現(xiàn)對樣品冷凍，大大減緩...

許多催化反應(yīng)因其反應(yīng)過程不穩(wěn)定，催化活性位點會相應(yīng)地發(fā)生遷移，團聚和重構(gòu)等變化。催化劑表面結(jié)構(gòu)、組成及催化活性與反應(yīng)條件密切相關(guān)，因此，在催化反應(yīng)過程中原位識別活性位點十分關(guān)鍵。原位液相透射電子顯微技術(shù)的發(fā)展，使人們可以對液相反應(yīng)過程中催化劑的結(jié)構(gòu)轉(zhuǎn)變過程進行原子尺度的直接觀察，并探索催化劑的轉(zhuǎn)變機理。圖1.Cu2O在不同輻照時間下的HRTEM圖及結(jié)構(gòu)變化示意圖近期，廈門大學廖洪鋼教授和南京大學董林教授通過利用自主研發(fā)的原位液相TEM光學樣品桿與原位液體芯片，實現(xiàn)了TEM原位...

高真空檢漏儀用于對有密封要求的封裝器件進行真空檢漏，以便發(fā)現(xiàn)漏孔位置。特別適合于對真空保持有很高要求的器件進行檢測，可以確定出器件漏率大小，判斷器件真空壽命。適用原位反應(yīng)艙芯片：自組裝鍵合一體式芯片，加熱芯片，納流體芯片。高真空檢漏儀在將樣品放進電鏡前，仔細檢驗樣品芯片安放是否存在泄露是必要的，這可以提高原位樣品臺的使用效率，保護透射電鏡。該設(shè)備是專門用于TEM樣品臺真空儲存和密封檢查。它能夠在5min內(nèi)將系統(tǒng)內(nèi)真空度抽至10^(-5)mbar，即TEM內(nèi)的真空環(huán)境。搭配的超...